KI-Stammtisch: Aus Fehlern lernen: ML-basierte Modellfehlerschätzung für die Entwurfsverifikation von integrierten Schaltungen
KI-Stammtisch: Aus Fehlern lernen: ML-basierte Modellfehlerschätzung für die Entwurfsverifikation von integrierten Schaltungen
Für die Entwurfsverifikation von integrierten Schaltungen werden viele Simulationen des Entwurfs benötigt. Für die Simulationen werden unterschiedliche Ansätze verwendet: physikalisch präzise, aber rechenaufwändige Transistorlevelsimulationen und durch Abstraktion wesentlich vereinfachte und dadurch schneller zu berechnende Verhaltenssimulationen. Aufgrund der benötigten Abstraktion sind Verhaltenssimulationen fehlerbehaftet und können im Ergebnis von Transistorlevelsimulationen abweichen. Die hier vorgestellte Methode ermöglicht es,…